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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
光学元件的疵病检测及现状
Defect detection and current situation of optical components
投稿时间:2019-12-02  
DOI:10.3969/j.issn.1005-5630.2020.03.013
中文关键词:  光学元件  标准  疵病检测  散射成像
英文关键词:optical element  standard  detection of defects  scattering imaging
基金项目:
作者单位E-mail
陆敏 哈尔滨工业大学 航天学院,黑龙江 哈尔滨 150001  
王治乐 哈尔滨工业大学 航天学院,黑龙江 哈尔滨 150001  
高萍萍 哈尔滨工业大学 航天学院,黑龙江 哈尔滨 150001 15680805709@163.com 
郭继锴 哈尔滨工业大学 航天学院,黑龙江 哈尔滨 150001  
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中文摘要:
      介绍了光学元件的疵病类型以及疵病检测标准,全面介绍了光学元件疵病检测方法的国内外发展现状。归纳出目前光学元件的疵病检测标准和检测方法的发展趋势及关键技术。分析表明,目前已有的疵病检测方法中还缺乏一种检测手段可以做到对所有类型疵病实现所需精度的检测,并且由于视场受限、难以定量等技术障碍而无法建立高效、自动化的检测分析设备。
英文摘要:
      This paper briefly introduces the types of defects in optical elements and their detection standards. The development status of optical element defect detection methods at home and abroad is introduced. The development trend and key technologies of current optical element defect detection standards and methods are summarized. The analysis shows that the existing defect detection methods lack of a detection method to achieve the required precision detection of all types of defects. Due to limited field of view, quantitative and other technical obstacles, it is impossible to establish efficient, automated detection and analysis equipment.
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