用户登录
期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
基于FPGA+ADSP的线阵CCD非接触测量系统
A non-contact linear CCD measuring system based on FPGA and ADSP
  
DOI:
中文关键词:  光学测量  线阵CCD  多行扫描
英文关键词:FPGA  ADSP
基金项目:
葛鹏  刘涛  李奇
摘要点击次数: 3864
全文下载次数: 8
中文摘要:
      提出了基于FPGA和ADSP的线阵CCD非接触测量技术.选用线阵CCD作为前端信号采集;采用FPGA产生与控制整个系统的时序:CCD工作时序、A/D转换时序、ADSP采集数据同步时序;采用多次扫描平均方法形成一维数字图像;利用DSP高速图像处理性能并设计高性能的浮动阈值二值化算法对其处理.给出了时序仿真图,满足系统的时序要求;并给出了测量物体的波形.通过对光学系统的定标最终给出了物体的长度.数据表明,相比传统的测量系统,该系统具有高速和高精度的优点.
英文摘要:
      
HTML   查看全文  查看/发表评论  下载PDF阅读器
关闭