|
| CCD像元光电转换率不一致性分析及其修正方法 |
| Analysis of CCD pixels photo-electro transition rate non-uniformity and its correction |
| 修订日期:2007-07-04 |
| DOI: |
| 中文关键词: 光电耦合器件(CCD) 光电转换率 不一致性 修正 |
| 英文关键词: |
| 基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划) |
| 居戬之 韦晓茹 朱亚一 吴建宏 |
居戬之(苏州大学,信息光学工程研究所,江苏,苏州,215006) ;韦晓茹(苏州大学,信息光学工程研究所,江苏,苏州,215006) ;朱亚一(苏州大学,信息光学工程研究所,江苏,苏州,215006) ;吴建宏(苏州大学,信息光学工程研究所,江苏,苏州,215006)
|
| 摘要点击次数: 2335 |
| 全文下载次数: 19 |
| 中文摘要: |
| 从理论上分析了CCD像元光电转换率不一致性产生的多种原因.提出了一种简易实用的方法对不一致性进行修正:用照度均匀的光照射CCD,测出每个像元上的光电转换信号大小,计算出像元间的差异,从而得到每个像元的修正系数.对实际CCD的测量值进行这样的修正后使得CCD各像元的光电转换率在表观上达到一致.实验结果表明:通过修正后可以有效地减少像元光电转换率的不一致性,误差均方根提高了一个数量级. |
| 英文摘要: |
| |
| HTML 查看全文 查看/发表评论 下载PDF阅读器 |
| 关闭 |
|
|
|