用户登录
期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
基于光谱能量分析的介质厚度测量方法
The measurement method for medium thickness based on spectral energy analysis
  修订日期:2007-05-22
DOI:
中文关键词:  光学测量  光谱能量分析  厚度检测  光谱仪
英文关键词:
基金项目:
陈志超
陈志超(西安工业大学,光电工程学院,陕西,西安,710032)
摘要点击次数: 2530
全文下载次数: 16
中文摘要:
      介绍了一种对厚度很小的平行玻璃平板厚度的高精度测量方法.通过激光束垂直照射被测物,用光谱仪接受并分析反射光各波长的能量.以此数据分析出介质对不同波长光线的反射率,找出反射率极大的波长.使用这些具有反射极大的波长进行计算,就得到介质的厚度值.该测量方案结构简单,测量精度较高.
英文摘要:
      
HTML   查看全文  查看/发表评论  下载PDF阅读器
关闭