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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
用透射法测量单层薄膜的折射率
Measuring the refraction index of single thin film by transmission method
  修订日期:2007-02-07
DOI:
中文关键词:  单层薄膜  折射率  透射率
英文关键词:
基金项目:国家自然科学基金 , 宁波大学科学技术学院学生科研基金
蒋卫敏  潘雪丰  陶卫东
蒋卫敏(宁波大学科学技术学院,浙江,宁波,315211)
;潘雪丰(宁波大学理学院,浙江,宁波,315211)
;陶卫东(宁波大学理学院,浙江,宁波,315211)
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中文摘要:
      根据单层薄膜透射率的表达式,提出了一种用透射法测量薄膜折射率的新方法.按照该方法,通过测量p光和s光在相同入射角下的透射率,可以计算得到薄膜的折射率.在测量中考虑了影响测量结果的两个方面,从而减少了实验误差.在波长为532nm的激光照射下,采用该法测得MgF2薄膜的折射率为1.379±0.005,相对误差小于0.4%.
英文摘要:
      
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