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| 用透射法测量单层薄膜的折射率 |
| Measuring the refraction index of single thin film by transmission method |
| 修订日期:2007-02-07 |
| DOI: |
| 中文关键词: 单层薄膜 折射率 透射率 |
| 英文关键词: |
| 基金项目:国家自然科学基金
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宁波大学科学技术学院学生科研基金 |
| 蒋卫敏 潘雪丰 陶卫东 |
蒋卫敏(宁波大学科学技术学院,浙江,宁波,315211) ;潘雪丰(宁波大学理学院,浙江,宁波,315211) ;陶卫东(宁波大学理学院,浙江,宁波,315211)
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| 中文摘要: |
| 根据单层薄膜透射率的表达式,提出了一种用透射法测量薄膜折射率的新方法.按照该方法,通过测量p光和s光在相同入射角下的透射率,可以计算得到薄膜的折射率.在测量中考虑了影响测量结果的两个方面,从而减少了实验误差.在波长为532nm的激光照射下,采用该法测得MgF2薄膜的折射率为1.379±0.005,相对误差小于0.4%. |
| 英文摘要: |
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