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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
导纳轨迹图解方法在诱导透射滤光片设计中的应用
Application of admittance loci illustrate method in ITF design
  修订日期:2006-03-20
DOI:
中文关键词:  诱导透射滤光片(ITF)  导纳  匹配层  导纳轨迹
英文关键词:induced transmittance filter(ITF),admittance,matching layer,admittance loci
基金项目:
金扬利  马勉军
兰州物理研究所表面工程技术重点实验室 甘肃兰州730000
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中文摘要:
      诱导透射滤光片设计中,金属层厚度的选择是很重要的环节.应用导纳轨迹图解方法,可以确定能诱导出滤光片最大透射率的金属层厚度.与用势透射率概念设计方法相比,采用该方法确定的金属层厚度,可使所设计制作的诱导透射滤光片的峰值透射率更高.实际设计中,可以以此厚度为基础进行调整,使膜系满足设计要求.
英文摘要:
      
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