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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
我国高精度纳米分辨力线位移测量技术获新突破
  
DOI:
中文关键词:  位移测量技术  高精度  纳米  力线  长春光机所  基础研究项目  专家鉴定  测量传感器
英文关键词:
基金项目:
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中文摘要:
      由长春光机所承担的应用基础研究项目——“高精度纳米分辨力线位移测量技术研究”,不久前在长春通过专家鉴定。鉴定委员会专家一致认为,该项研究所制成的高精度纳米测量传感器样机达到四倍光学倍频,技术指标达到国际先进水平。
英文摘要:
      
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