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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
EF-Ⅱ薄膜厚度测定仪
  
DOI:
中文关键词:  EF-Ⅱ薄膜厚度测定仪  光学测量法  对焦系统  仪器使用  电子工业  薄膜涂层  非接触式
英文关键词:
基金项目:
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中文摘要:
      一、用途 EF-Ⅱ薄膜厚度测定仪,主要用于测定金属薄膜涂层的厚度,该仪器采用非接触式两次对焦的光学测量法,附以最先进的电子对焦系统,使得测量的重复误差在1μm-3μm之间,利用CCD加监视器观察图像,比人眼观察更客观。该仪器使用方便、操作简单、测量误差小、精度高,广泛应用于电子工业、塑料、橡胶、机械等行业。
英文摘要:
      
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