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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
1.55μm超辐射发光管端面减反射膜的研究
Facet antireflection coating of 1.55μm superluminescent diode
  修订日期:2006-06-30
DOI:
中文关键词:  减反射膜  挡板调制法  超辐射发光管
英文关键词:antireflection coating,mask modulator method,superluminescent diode
基金项目:
聂明局  刘德明  胡必春
华中科技大学光电子工程系 湖北武汉430074
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中文摘要:
      减反射膜层折射率和厚度的精密监控是超辐射发光管的关键技术.分析了超辐射发光管端面减反射膜的四种膜系,提出了监控薄膜厚度的挡板调制、高级次过正极值法.采用该法制备超低剩余反射膜的实验表明:单面镀膜后,砷化镓基片的剩余反射率达到0.04%;管芯的反馈谐振被抑制,出现超辐射现象,峰值波长从1610nm移动到1560nm,蓝移约60nm,光谱纹波小于0.3dB.
英文摘要:
      The index of refraction and the layer thickness of single-layer coatings have to be strict controlled to meet for producing a high-quality single-layer antireflection coating on laser diodes facets.Analysised the facet antireflection coating of superluminescent diode.A mask modulator method combining multi-order,overshoot quantities of turning point monitoring technique are described.One facet coated LDs is driven and ASE spectra are measured.The residual reflectivity of coated GaAs is about 0.04%,the center wavelength shifts about 60 nm from 1610 nm to 1560 nm and the ripple in the gain is less than 0.3 dB.
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