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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
显微图像的光学薄膜缺陷密度统计
Optical coating defects density research based on image
  修订日期:2006-06-30
DOI:
中文关键词:  光学薄膜  图像分割  遗传算法  二维最大熵  缺陷密度
英文关键词:optical coating,image segmentation,inheritance algorithm,two dimension maximal entropy,defect density
基金项目:
何长涛  马孜  王旭阳  陈建国  赵汝进
四川大学电子信息学院 四川成都610064(何长涛,王旭阳,陈建国)
,西南技术物理研究所 四川成都610041(马孜)
,西南科技大学信息工程学院 四川绵阳621002(赵汝进)
摘要点击次数: 2206
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中文摘要:
      薄膜表面缺陷密度统计是改进薄膜表面质量的重要依据.阐述了基于遗传算法的二维最大熵分割算法的原理及实现步骤.采用这种算法对薄膜缺陷图像进行分割,对分割后的图像进行了薄膜缺陷密度的测量.实验结果表明,这种方法对薄膜表面缺陷提取简单且易于测量,为分析缺陷原因提高薄膜质量起到重要的指导作用.
英文摘要:
      
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