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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
中心点亮度和均方根值两种评价方法间的联系
Relationship between Strehl ratio and root mean square for assessing optical surface
  修订日期:2005-01-04
DOI:
中文关键词:  应用光学,评价方法,最优化,中心点亮度,均方根值,计算机模拟
英文关键词:applied optics,assessment method,optimization,Strehl ratio,root mean square(RMS),computer simulation
基金项目:
戴斌飞  余景池
苏州大学现代光学技术省重点实验室 江苏苏州215006 (戴斌飞)
,苏州大学现代光学技术省重点实验室 江苏苏州215006(余景池)
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中文摘要:
      对评价光学波前误差的两个重要指标——中心点亮度和均方根值的内在联系进行了深入的研究,利用计算机优化得到了两者关系的极限曲线,并进一步分析了利用计算机模拟得到的两种极限情况下面形的特征,得到:均方根误差一定的表面,其中心点亮度与面形误差的空间频率分布有关。若面形误差的中高频分量较高,它的中心点亮度将较低。从而揭示了相同均方根值误差的表面产生不同中心点亮度的原因,为较全面地评价光学元件和系统的误差提供了参考。
英文摘要:
      
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