|
| 中心点亮度和均方根值两种评价方法间的联系 |
| Relationship between Strehl ratio and root mean square for assessing optical surface |
| 修订日期:2005-01-04 |
| DOI: |
| 中文关键词: 应用光学,评价方法,最优化,中心点亮度,均方根值,计算机模拟 |
| 英文关键词:applied optics,assessment method,optimization,Strehl ratio,root mean square(RMS),computer simulation |
| 基金项目: |
| 戴斌飞 余景池 |
苏州大学现代光学技术省重点实验室 江苏苏州215006
(戴斌飞) ,苏州大学现代光学技术省重点实验室 江苏苏州215006(余景池)
|
| 摘要点击次数: 2448 |
| 全文下载次数: 15 |
| 中文摘要: |
| 对评价光学波前误差的两个重要指标——中心点亮度和均方根值的内在联系进行了深入的研究,利用计算机优化得到了两者关系的极限曲线,并进一步分析了利用计算机模拟得到的两种极限情况下面形的特征,得到:均方根误差一定的表面,其中心点亮度与面形误差的空间频率分布有关。若面形误差的中高频分量较高,它的中心点亮度将较低。从而揭示了相同均方根值误差的表面产生不同中心点亮度的原因,为较全面地评价光学元件和系统的误差提供了参考。 |
| 英文摘要: |
| |
| HTML 查看全文 查看/发表评论 下载PDF阅读器 |
| 关闭 |
|
|
|