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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
基于AFM的光盘形貌研究
The study of optical disk pattern based on AFM
  修订日期:2004-12-13
DOI:
中文关键词:  原子力显微镜(AFM),光盘,凹坑,检测
英文关键词:atomic force microscope(AFM),optical disk,pit,detection
基金项目:
孙大许  刘万里  马强  闫勇刚
河南理工大学精密工程研究所 河南焦作454003 (孙大许,刘万里,马强)
,河南理工大学精密工程研究所 河南焦作454003(闫勇刚)
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中文摘要:
      介绍了原子力显微镜(AFM)的原理及特点。用AFM对光盘上记录信息用的凹坑结构进行了三维检测,并对测量结果进行了分析。结论表明AFM在光盘质量检测过程中具有独特的优势。
英文摘要:
      The paper introduces the principle and characteristic of atomic force microscope(AFM).It is used to three-dimensional detect pit structure on optical disk,and analyzed measure results.The obtained results demonstrate the AFM have particular advantages in detecting the quality of optical disk.
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