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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
用光腔衰荡法测量高反射率的实验研究
The research of high reflectivity measurement by cavity ring-down spectroscopy
  修订日期:2004-06-16
DOI:
中文关键词:  光腔衰荡光谱(CRDS),反射率,测量
英文关键词:cavity ring-down spectroscopy (CRDS),reflectivity,measurement
基金项目:
高丽峰  熊胜明  李斌成
中国科学院光电技术研究所,中国科学院光电技术研究所,中国科学院光电技术研究所 四川成都610209中国科学院研究生院北京100039,四川成都610209,四川成都610209
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中文摘要:
      根据光腔衰荡光谱技术开展了测量镜片高反射率的研究,建立了测量实验装置。理论上给出了反射率测量的计算方法,在实验中测定了一对反射率相等的高反射腔镜的反射率,以及一块45°反射镜样品的反射率,并分析了影响光腔衰荡曲线的参数。
英文摘要:
      
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