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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
基于光腔衰荡的反射率测量技术的研究
Reflectance determination based on cavity ringdown
  修订日期:2003-11-30
DOI:
中文关键词:  光腔衰荡(CRD),反射率,测量技术
英文关键词:cavity ringdown (CRD),reflectance,measurement technology
基金项目:
孙宏波  熊胜明  高丽峰
中国科学院光电技术研究所,中国科学院光电技术研究所,中国科学院光电技术研究所 四川成都610209,四川成都610209,四川成都610209
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中文摘要:
      根据光腔衰荡原理开展了高反射率镜片反射率测量技术的研究。理论上给出了直型腔和折叠腔的反射率计算方法,构建了测量高反镜反射率的实验系统。实验结果表明系统结构简单,易调节,可以测量任意角度的反射率,测量结果精确,可满足高反镜片的各种测量要求。
英文摘要:
      The research on high reflectivity mirror reflectivity measurement system was developed according to cavity ringdown theory. The theoretical basis of mirror reflectance determination based on cavity ringdown is introduced and a experiments setup was developed. The results show that this technique has simple setup, high-sensitivity and can apply for measurement of many high reflectance mirror.
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