用户登录
期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
利用Pb1-xGexTe材料的折射率异常性质改善红外光学薄膜的低温性能
Improving low-temperature performance of infrared optical coatings utilizing the abnormal refractive index of Pb1-xGexTe
  修订日期:2003-11-30
DOI:
中文关键词:  薄膜干涉滤光片  温度稳定性  Pb1-xGexTe  铁电相变  折射率温度系数
英文关键词:
基金项目:国家自然科学基金资助项目(60378022)
李斌  张素英  谢平  张凤山
李斌(中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083)
;张素英(中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083)
;谢平(中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083)
;张凤山(中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083)
摘要点击次数: 2681
全文下载次数: 21
中文摘要:
      红外薄膜干涉滤光片性能在低温下的变化是空间遥感系统中的一个关键性问题.经研究表明IV-VI族半导体PbTe和GeTe的赝二元合金Pb1-xGexTe在铁电相变点具有折射率异常-相应于铁电相变,Pb1-xGexTe薄膜呈现出最大折射率值.用Pb0.94Ge0.06Te材料代替PbTe材料,制作了一个红外薄膜干涉滤光片.测试结果表明其中心波长漂移从0.48nm/K改进到0.23nm /K,在所测量的80K~300K的温度范围,用Pb0.94Ge0.06Te材料制作的滤光片的峰透过率高于用PbTe材料制作的滤光片约3%,从而极大地改善了光学薄膜器件在深低温环境下的稳定性和可靠性.
英文摘要:
      
HTML   查看全文  查看/发表评论  下载PDF阅读器
关闭