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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
软X射线偏振光学元件的设计与制备
Design and fabrication of polarizing optical element in the soft X-ray range
  修订日期:2003-11-30
DOI:
中文关键词:  软X射线,偏振,多层膜,拟合
英文关键词:soft X-ray,polarization,multilayer,fitting
基金项目:国家自然科学基金资助项目(60178021),上海市科技攻关项目(022261049)
王洪昌  王占山  吴文娟  王风丽  张众  秦树基  陈玲燕
同济大学精密光学工程技术研究所,同济大学精密光学工程技术研究所,同济大学精密光学工程技术研究所,同济大学精密光学工程技术研究所,同济大学精密光学工程技术研究所,同济大学精密光学工程技术研究所,同济大学精密光学工程技术研究所 上海200092,上海200092,上海200092,上海200092,上海200092,上海200092,上海200092
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中文摘要:
      叙述了软X射线波段反射式多层膜起偏器和检偏器的设计原则和设计方法,优化计算了5.9nm波长处多层膜光学元件的偏振性能,阐述了其制备的过程,利用小角度衍射法对多层膜的厚度进行了测量,并对同步辐射测量的反射率结果进行了拟合分析。
英文摘要:
      The conditions for optimum polarization of reflective multilayered polarizers and analyzers in the soft X-ray range are given. The performances of reflection polarized components are optimized in 5.9nm,and the progress of the fabrication is present. The small angle diffraction method is used to measure the thickness of multilayer, and the reflectivity measured by synchrotron radiation is fit and analyzed.
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