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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
PDP真空紫外荧光粉余辉测试仪
Test instrument of afterglow properties of VUV-phosphor used in PDP
  修订日期:2003-05-26
DOI:
中文关键词:  PDP  荧光粉  余辉特性  余辉时间  真空紫外
英文关键词:PDP,fluorescent,property of afterglow,decay time,vacuum ultraviolet,
基金项目:
朱美萍  牟同升
朱美萍(浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江杭州310027)
;牟同升(浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江杭州310027)
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中文摘要:
      回顾了PDP荧光粉的基本原理,阐述了余辉测试的重要性,详细介绍了PDP用真空紫外荧光粉余辉测试系统的各个组成部分及其工作原理,并根据测得数据绘出了余辉特性曲线,最后对该系统的性能进行了评估.
英文摘要:
      In this paper,the basic principle of PDP and the importance of testing were described.Each component and its working principle of the testing system of VUV-phosphor used in plasma display panel(PDP) were introduced in detail.The performance curve of remaining light was drawn according to the tested data,and at last the performance of the system was evaluated.
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