用户登录
期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
一种基于CMOS的长水泡检测方法研究
A testing method of plate level based on CMOS image system
  修订日期:2003-06-16
DOI:
中文关键词:  长水准器  比较器  线阵CMOS图像传感器
英文关键词:plate level,differential comparator,linear CMOS image sensor,
基金项目:
徐进  倪旭翔  陆祖康  王林
徐进(浙江大学国家光学仪器工程技术研究中心,浙江杭州310027)
;倪旭翔(浙江大学国家光学仪器工程技术研究中心,浙江杭州310027)
;陆祖康(浙江大学国家光学仪器工程技术研究中心,浙江杭州310027)
;王林(中国计量学院机电学院,浙江杭州310012)
摘要点击次数: 2460
全文下载次数: 12
中文摘要:
      提出了基于线阵CMOS图像传感器的长水泡检测方法。检测系统通过CMOS传感器及外围电路对水准器图像进行处理,利用比较器设定阈值的方法,得到了长水泡两个边界的位置并将其显示,从而实现对长水泡的检测。
英文摘要:
      A method for testing the bubble of plate level is introduced in the paper.First,the image of plate level is obtained by linear CMOS image sensor.Secondly,the brim of the bubble image is detected using differential comparator after preprocessing the image.And lastly,MCU send two edges data to the display unit.
HTML   查看全文  查看/发表评论  下载PDF阅读器
关闭