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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
成像标定法测量半导体激光器慢轴远场分布
Far-field distribution measurement of a laser diode by using CCD with imaging and calibration technique
  修订日期:2003-05-23
DOI:
中文关键词:  半导体激光器,远场分布,CCD测量,成像,标定
英文关键词:laser diode,far-field distribution,CCD measurement,image transformation,calibration
基金项目:
任杰  洪治
浙江大学现代光学仪器国家重点实验室,浙江大学现代光学仪器国家重点实验室 浙江杭州310027,浙江杭州310027
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中文摘要:
      利用远场成像及标定对比方法,建立了半导体激光器慢轴远场分布的CCD测量系统。介绍了测量的原理和测量系统的组成,并给出了半导体激光器慢轴远场分布的测量结果。实验结果表明,该方法实时性好,测量快速、准确,人为误差因素少,适合仪器化。
英文摘要:
      A CCD far-field distribution measurement system with imaging and calibration techniques was established to measure the far-filed distribution along the slow axis of LD.The principle and setup of the system are introduced.Some experimental results are reported which show that the system is capable of realizing real-time,quick,accurate,and less artificial error measurement.The experimental system can be suitably developed to an instrument.
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