用户登录
期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
一种溶液浓度分布测量方法简介
A novel measurement method of solute concentration profile
  修订日期:2001-01-19
DOI:
中文关键词:  纹影法,折射率梯度,溶液浓度轮廊
英文关键词:schlieren method,gradient of refractive index,solute concentration profile
基金项目:国家自然基金项目! (5 9975 0 5 2 )
李文江  徐毓娴  张志利
清华大学精密仪器系!北京100084
摘要点击次数: 2862
全文下载次数: 16
中文摘要:
      提出了一种在纹影法的基础上加以改进后能够对溶液的浓度轮廓进行观察与测量的新的显微成像测量方法——暗场纹影法。同时给出了该方法原理性实验的观察结果 ,并与微分干涉显微镜的观察结果进行了对比
英文摘要:
      A novel microscopic method for the in situ mapping of solute concentration profiles is presented in this paper,which is called Dark Field Type Schlieren method.This method was modified and improved from the Schlieren method,and can observe the variation of the solute concentration.In addition,the observed result of the theoretical experiment,and a comparison to the result from a differential interference microscope is also provided.
HTML   查看全文  查看/发表评论  下载PDF阅读器
关闭