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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
功率谱密度函数评价方法探讨
Analysis about evaluating method of power spectral density function
  
DOI:
中文关键词:  光学元件,功率谱密度函数,傅里叶分析
英文关键词:optical component,power spectral density function,Fourier analysis.
基金项目:
徐芳  魏全忠
中科院光电技术研究所,成都,610209
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中文摘要:
      高能量、高分辨力光学系统给传统的光学面形评价指标提出了新的要求.各项测试技术,信息理论的更新给我们的研究提供了可能.介绍采用PSD功率谱密度函数来评价光学元件面形中频误差.
英文摘要:
      High energy,high resolution optical system put forward new demand for traditional analysis of surface profile.The updating of testing technology and information theory provides us possibility for study.We evaluate mid frequency error of optical component surface profile by power spectral density function.
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