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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
用干涉极值法监控有机电致发光薄膜厚度的研究
Study of Controlling Thickness of Organic Electroluminescent Thin Film with Interferential Maximum Method
  
DOI:
中文关键词:  干涉极值法,喔星锌,电致发光薄膜
英文关键词:Interferential Maximum Method,8 Hydroxyquinoline Zinc,Electroluminescent Thin Film.,
基金项目:浙江省自然科学基金
范希智  李刚正
浙江大学现代光学仪器国家重点实验室!杭州310027
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中文摘要:
      根据Abeles 法测量了喔星锌的折射率,为1.697;代替石英晶体振荡法,利用干涉极值法监控,通过真空蒸发镀制了光学厚度(nd)为540nm 的喔星锌有机电致发光薄膜,说明在真空蒸发下干涉极值法监控有机电致发光薄膜的膜厚是有效的。
英文摘要:
      
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