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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
新型芯片故障诊断设备
  
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中文摘要:
      英国萨塞克斯大学科学家宣布研制出新型芯片故障诊断设备——扫描电位显微镜。与其它类似测试手段不同,新设备在诊断过程中不会对芯片的正常工作产生影响。目前诊断芯片故障最常用的是探针测试法,该方法是用探针接触芯片的一些特定部位,通过测量这些部位的电压来判断哪些元件出现了毛病。另外,电子束扫描技术在芯片故障诊断过程中也常被采用。但两种方法在诊断过程中都会从芯片集成电路中吸收电流,从而干扰被诊断芯片的正常工作。萨塞克斯大学科学家发明的“扫描电位显微镜”成功地避免了上述问题。它采用了与小型电压计相连的钨制探针…
英文摘要:
      
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