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| Z4M-N30V型正反射式激光位移测定仪 |
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| 日本欧姆龙公司不久前推出Z4M-N30V型正反射式激光位移测定仪。该仪器是利用半导体激光器来测量物体(从镇面物体到漫射物体)微小位移量的产品。它可用于测定加工、组装时的位置和检验加工零件的尺寸。较之同样用途的LED(发光二极管)光源式和超声波式位移仪有更高的测量精度。以前,欧姆龙的激光位移测定仪采用漫、反射方式,所以无法进行镜面体的测定。而新产品则采用同感光元件组成最佳配置,采用欧姆龙自己的正反射光学系统技术和数字信号技术等,不仅能测定镜面物体,而且也能测定同时存在镜面部分和漫射部分的物体。例如,铝和… |
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