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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
剪切干涉图判读计算程序
  
DOI:
中文关键词:  
英文关键词:
基金项目:
王茂钧
华东工程学院
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中文摘要:
      作为检测光学系统和光学元件质量的横向剪切干涉仪是一种值得推广、使用的仪器。近年来,它受到许多光学工作者的重视。但其还存在着波面变形量与干涉条纹变形量不一致,剪切干涉图的判读较为麻烦等问题。本文介绍了一种ZWC—1剪切干涉图,它判读计算程序仅需输入三个基本已知量(剪切宽度、干涉条纹宽度和数量),就可自动定出各参考点的位置,并计算出干涉级次,程序用于计算干涉条纹的变形量和被检测波面的变形量及打印出被检测波面变形量曲线了。文内提供了检测原理的数学模型,较为详细地叙述了如何在已获得的剪切干涉图上确定各参考点的位置及其干涉级次的两种计算方法,例举了程序的使用并给出其程序框图。
英文摘要:
      
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