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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
表面分析技术及其在光学薄膜测量中的应用
  
DOI:
中文关键词:  
英文关键词:
基金项目:
王迅
复旦大学现代物理研究所
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中文摘要:
      表面分析技术是一种新的测试技术,它对深入研究和了解与材料表面有关的各种现象有着十分重要的意义。不少学科的研究课题都与表面的分析研究密切相关,引起人们的广泛重视,电子能谱仪作为表面分析的主要手段,是测试分析中的关键设备之一。本文对表面分析技术的原理、特点作简要介绍,並举例说明它在测量光学薄膜方面的应用。
英文摘要:
      
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