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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
检验光学元件的新方法——夹层全息法
  
DOI:
中文关键词:  
英文关键词:
基金项目:
陈兰英  冯大任  邹海兴
上海光学精密机械研究所,上海光学精密机械研究所,上海光学精密机械研究所
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中文摘要:
      夹层全息术是为判别形变矢方向而发展起来的一种新型全息术。一般用于漫射体的形变测量。文中采用“相位”漫射屏法,使夹层全息术推广使用于光学元件参数的测量,特别是小相对孔径、长焦距物镜的测量。文中分析了夹层全息的测量精度,精度可达0.3%,并与其他测量方法作了比较。
英文摘要:
      
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