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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主  编:
  • 庄松林
  • 地  址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单  价:
  • 15.00
  • 定  价:
  • 90.00
X 射线荧光分析仪用的氟化锂弯晶的研磨和成型
  
DOI:
中文关键词:  
英文关键词:
基金项目:
解学文
上海光学仪器研究所
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中文摘要:
      (1) 前言 X射线萤光分析仪,国外早已成批生产。近几年来,我国许多单位开始研制这种仪器。氟化锂晶体的平晶和弯晶是该仪器的主要分光元件之一,可以说是该仪器的“心脏”。用它可进行钛到重元素以及稀土元素(或19K~92 U)的定性和定量分析。X射线萤光仪常用的氟化锂分光元件是平晶(图1)和弯晶两种形式。平晶的制造比较简单,但是,反射的X射线不能聚焦,不能被探测器全部接收,能量损失较大。弯晶的制造工艺虽然比较复杂,但却克服了这一
英文摘要:
      
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