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| 一种光电瞄准测长仪器 |
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| 夏国鑫 |
| 上海光学仪器研究所 |
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| 中文摘要: |
| 一.引言光学测长仪器已从目视发展到投影,再进一步提高仪器的性能,就得采用光、机、电相结合的新原理。应用光电瞄准提高瞄准精度和减轻劳动强度就是途径之一。早在几十年前就已经利用光电瞄准来介决标尺的高精度计量问题,如瑞士Sip厂在1945年就利用光电显微镜检定标尺。但是光电瞄准用于测长仪器上还是最近的事。如民德Zeiss厂生产的光电瞄准立式测长仪,1976年在上海民德工业展览会上展出;瑞士 |
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