在评价光学系统成像质量中常用能量集中度比、分辨率等来评价,而这些都是基于标量衍射理论得出的。随着成像光学系统分辨率的不断提高,偏振对成像质量的影响变得越来越不可忽视,在大数值孔径的光学系统中标量理论分析方法已不能满足高精度需求,而需要使用更高精度的光线矢量偏振分析方法[1]。偏振像差即光学系统对光波偏振态的改变所造成的像差,导致成像分辨率下降。国外对于偏振像差的检测使用米勒矩阵成像仪,该仪器能快速给定光学元件的米勒矩阵[2],从而获得偏振现象的振幅、相位、线性二次衰减和线性延迟、退偏特性等;国内对于偏振像差的检测主要是检测弥散光斑直径来判断光学系统成像质量的好坏,通过采用星敏感器或双四象限探测器的方法来计算光斑直径。本文提出了两种表征和检测施密特棱镜偏振像差的方法,一种基于瑞利判据原理提出的弥散圆检测方法,另一种以矢量衍射为基础得到以B值大小来表征偏振像差。这两种方法的结合可以精确、快速地检测施密特棱镜的偏振像差。通过实验验证两种方法的可靠性,将弥散圆检测和B值检测结合是棱镜偏振像差检测的有效方法。
1 现象表征与机理表征 1.1 现象表征传统的弥散圆检测只检测弥散圆的半径,而这一个参数并不能够满足对偏振像差的描述。因此基于偏振像差的检测需要,在测量弥散圆半径的基础上增加了测量衍射光斑分裂成两个弥散斑的中心距离,由于光斑分裂中央零级衍射斑不是一个圆,因此用弥散圆的不圆度即变形度[3]来表示成像质量。本方法以瑞利判据为依据,当衍射图样重合区中点的光强值约为每个衍射图样中心最亮处强度的74%,此时的分辨极限角ε0=0.61λ/a(a为圆孔半径),恰好可以分辨两个弥散斑,当重合区中点光强值大于74%时,则无法分辨出两个弥散斑。但是瑞利判据只讨论两个点光源连线上的光强分布,是按一维处理的,而实际的视场是二维的[4],如图1所示。因此即使两个点光源接近到瑞利分辨率极限ε=0.85ε0时,一维图已不能分辨出两个点物的像,而二维图仍可以清晰地分辨出两个点物的像。由二维图可以方便地计算出两个光斑的中心距离,中心距离的不同代表着偏振像差的大小不同,而弥散圆的变形度可以作为光束通过棱镜后成像质量好坏的评价参数。
弥散圆检测是对棱镜偏振像差具体表现形式的检测,不局限于只测量弥散斑半径大小。将分裂光斑中心距之间的距离作为表征偏振像差的一个参数,距离越大则偏振像差越大,以变形度来表示成像质量,两者共同表示偏振像差。
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图 1 瑞利判据一维与二维图 Fig. 1 Rayleigh criterion for one dimensional and two-dimensional graphs |
自然光通过斯密特棱镜的矢量衍射光强分布[5]
由式(1)可得光斑分裂后的光强及峰值偏移量与B值之间的关系如图2(b)所示,随着B值的增大,光强和峰值位置也随着发生变化,因此B值的大小不仅决定着衍射像是否分裂还决定着分裂光斑的大小以及光强大小。基于B值对成像质量的这种影响,完全可用B值大小表示偏振像差大小。
用弥散圆检测一个重要参数是分裂光斑之间的中心距,而由图2(a)的关系可以看出,偏移量随着B值的增大而增大,B值大小决定双峰中心间距,因此这两种检测方法之间具有一致性。
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图 2 B值对偏移量和光强的影响 Fig. 2 The influence of B value on the offset and light intensity |
本方法以瑞利判据为依据通过提取出目标像的能量区间,得到二维弥散斑,并测量两弥散斑中心之间的距离以及弥散圆变形度,最后用GUI编写程序界面[
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图 3 算法示意图 Fig. 3 Algorithm diagram |
(1)一束单色光先通过透光轴方向为x轴的线偏器,再依次通过斯密特棱镜和透光轴沿x轴方向的检偏器,得到出射光束的Jones矢量为
(2)一束单色光先通过透光轴为y轴方向的线偏器,再依次通过斯密特棱镜和透光轴沿x轴方向的检偏器,得到出射光束的Jones矢量为
由于在实验过程中考虑到激光的不稳定性,通过归一化用相对光强值来表征可消除因激光不稳定带来的结果偏差,归一化处理得
2.3 实用性对比弥散圆检测棱镜偏振像差时,人眼看到的是弥散斑的几何形状,而不是能量分布,给测试结果带来误差。采用CCD 作为接收器,可以实现多人同时观察弥散斑形状分布,并且通过判读软件可以精确反映弥散斑能量分布情况,降低误差。弥散斑正是偏振像差大小的直接表现,使用光斑中心距和弥散圆变形度这两个参数来表示偏振像差,此方法可应用于棱镜成像质量的快速检测。B因子表征偏振像差是以B值作为棱镜的结构特性参数,B值的大小造成光斑分裂,光强峰值偏移以及光强的变化,是产生偏振像差根本原因,因此B值可方便技术工作者直观判断导致偏振像差的大小的屋脊面反射相移差的大小[8],可在棱镜制造过程中衡量棱镜性能。这两种方法用前者不能直接得到后者的大小,用后者不能给出前者的直观效果。因此将两者结合应用既表征了像差现象的大小,又表征了像差源的大小是检测棱镜偏振像差的最可靠方法。
3 实验对比通过实验可以对两种方法的可靠性进行验证,使用He-Ne激光器作为光源分别照射2个不同的斯密特棱镜样品,棱镜的材料都为K9玻璃。采用的CCD型号为DH-HV1351UM,像元尺寸为5.2 μm×5.2 μm。样品1是无膜层的裸棱镜,样品2是镀有铝膜的屋脊棱镜。在屋脊面镀制相位膜层可以改变P、S波反射相移差即改变B值大小[9],是偏振像差矫正的主要途径。
弥散圆检测以界面形式表示,将实验拍摄的图片输入后经处理以等高线形式输出,由等高图的纵坐标读出到两个光斑中心之间的像素个数为25个再乘以CCD像元尺寸就是中心距,变形度通过对输入图片的程序判读得到光斑的半径尺寸再通过计算获得。
由
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图 4 样品1在自然光入射下的弥散圆检测界面 Fig. 4 The diffuse circle detection interface of Sample 1 with natural light incident |
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图 5 样品2光斑图与二维图 Fig. 5 The spot diagram and two-dimensional chart of Sample 2 |
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表 1 B值检测结果 Tab. 1 B value test results |
弥散圆检测以瑞利判据为依据,通过增加测量衍射光斑分裂的中心距离和弥散圆变形度这两个参数来完成偏振像差的表征。B值检测基于棱镜矢量衍射公式得出,以B值的大小来表征棱镜偏振像差。衍射光斑分裂成两个弥散斑是棱镜偏振像差的具体表现形式,而B值大小是导致偏振像差产生的根源。对于两个不同样品的棱镜检测,均得到和理论分析一致的结果。两种方法的结合使用既说明了偏振像差的形式大小,又表明了像差源的大小,对于棱镜的制造及检测具有实用意义。
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2016, Vol. 38
Issue (2): 112-116

